RTS-49L冷热冲击试验箱技术参数

冷热冲击试验箱在当前电子部品测试、研究、以及半导体生产线等方面大量适用，可大量节省耗材测试费用，操作快捷、高信赖度，是本公司经多年研究开发的高性能试验机，为客户提供长期可靠的测试工具。

    RTS-49L冷热冲击试验箱技术参数：

    型号：RTS-49L；

    内部尺寸40×40×31（W×H×D）CM；

    外部尺寸139×176×121（W×H×D）CM；

    性能：水冷式水温在25℃，空载时；

    试验槽温度使用范围：-40℃~+150℃；

    高温槽温度设定范围：+60℃~+160℃；

    高温槽升温时间：RT(室温)～+160℃ 约50min(室温在10~30℃时)；

    低温槽温度设定范围：-55℃~-10℃；

    低温槽降温时间：RT(室温)～-55℃ 约65min(室温在10~30℃时)；

    温度波动度：≤±1.0℃；

    温度偏差：≤±2.0℃；

    温度恢復时间：≤5分钟(塑胶IC负载2.5KG)；

    高低温暴露时间：30分钟以上；

    内箱材质：不銹钢板(SUS #304)；

    原装进口TEMI触摸屏控制器。