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高低温冲击试验的技术研究在于?

更新时间:2017-07-17 04:11:22 人气:261

高低温冲击试验的技术研究
     目前,各工程师在制定标准,执行标准时对于温度变化类的试验有很多不同的见解,且此类试验名称过多,导致实际应用中出现了一些不恰当的使用方法。本文环瑞特对温度变化类试验进行解读,一方面对各类试验项目进行分析,另一方面推荐使用合适的标准项目,以供各工程师参考使用。
     温度变化类试验项目有众多名称:温度变化、温度循环、温度交变、快速温变、温度冲击、冷热冲击、温度梯度、分级温度等名称。且不同体系的标准中应用的试验方法是不同的,如何区分这些试验项目,如何选择试验项目,这需要对各类型试验的来源以及其区别进行分析。
     本文针对的试验项目是温度变化类的,对于湿热类,温湿度循环等试验项目后续我司专业技术人员会再以专题叙述。

温度变化试验
     1)来源
       各类标准中的温度变化试验均来源于IEC 60068-2-14 试验方法N:温度变化中的 Nb 。在特定温度变率之温度变化试验。
     2)定义
       高低温冲击试验,为设置一定的温度变化速率进行高温与低温之间的转变。故在实际应用中有两类:一类为慢速的温度变化试验,其温度变化速率<3℃/min(一般各标准经常选择参数为1℃/min),也既一般应用中的温度变化、温度循环、温度交变试验(此三类为一种试验);另一类为快速的温度变化试验,其温度变化速率≥3℃/min(一般各标准经常选择参数为3℃/min、4℃/min、5℃/min、7℃/min、10℃/min),也既一般应用中的快速温变试验。温度变化速率越快,考核越严酷。
     3)目的及应用范围
       本试验适用于电子组件、装备或其它产品。为产品模拟带电工作时随温度的变化,如在系统/组件工作时快速改变周围温度。如果系统/组件处在热浸透温度(例如安装在发动机上的系统/组件),高温阶段附加的短暂温度峰值要确保产品在这期间的基本功能。为避免系统/组件内的电热扩散抑制系统/组件达到低温的效果,故在降温阶段将产品关闭。失效模式为温度变化引起的电气故障。

 

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